Bender Elements 시험
2013. 11
영신컨설턴트 02-529-8803
영국 GDS Bender Elements 시험 모식도
GDS Bender Elements 시험 모식도의 장치 | Bender Elements 다른장치 | |
2개의 Bender Elements |
Data측정용 SerialPad |
흙 시료에서 Bender Elements 측정 |
The S wave transmitters are usually located in the TOP CAP. | The P wave transmitters are usually located in the BASE PEDESTAL. |
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A. TOP과 BASE의 Channel 연결에 따른 결과비교
※ 측정결과 BASE와 TOP의 위치가(채널이) 바뀌어도 결과 값과 그래프는 동일하게 측정되었다.
1. 연결 : BASE = channel 1, TOP = channel 2, Source Type S 설정
결과 : P파 측정됨, 측정간격(0.01 ms)
2. 연결 : TOP = channel 1, BASE = channel 2, Source Type P 설정
결과 : P파 측정됨, 측정시간(0.01ms)
3. 연결 : BASE = channel 1, TOP = channel 2, Source Type P 설정
결과 : S파 측정됨, 측정시간(0.01ms)
4. 연결 : TOP = channel 1, BASE = channel 2, Source Type S 설정
결과 : S파 측정됨, 측정시간(0.01ms)
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